Study of Multicell Upsets in SRAM at a 5-nm Bulk FinFET Node

Autor:	Nicholas J. Pieper, Yoni Xiong, Alexandra Feeley, John Pasternak, Nathaniel Dodds, D. R. Ball, Bharat L. Bhuva
Rok vydání:	2023
Předmět:	Nuclear and High Energy Physics Nuclear Energy and Engineering Electrical and Electronic Engineering
Zdroj:	IEEE Transactions on Nuclear Science. 70:401-409
ISSN:	1558-1578 0018-9499
DOI:	10.1109/tns.2023.3240318
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::44f1b167995791cfc46b11139d79af7b https://doi.org/10.1109/tns.2023.3240318 Zobrazit plný text záznamu