Autor:	J. Hjelen, Robert A. Schwarzer
Rok vydání:	2015
Předmět:	Materials science Optics General Computer Science business.industry Detector Backscattered electron business Electron backscatter diffraction
Zdroj:	Microscopy Today. 23:12-17
ISSN:	2150-3583 1551-9295
DOI:	10.1017/s1551929514001333
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::442d72fcb8d69f301c47055b18f6b0f9 https://doi.org/10.1017/s1551929514001333 Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu PDF