A defect tolerance framework for improving yield

Autor:	Shiva Shankar Thiagarajan, Suriyaprakash Natarajan, Yiorgos Makris
Rok vydání:	2022
Zdroj:	Proceedings of the 59th ACM/IEEE Design Automation Conference.
DOI:	10.1145/3489517.3530534
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4401b4e6ec7e609c1b644825d68e0b27 https://doi.org/10.1145/3489517.3530534 Zobrazit plný text záznamu