Dynamical neutron-scattering measurements of residual stress in a Si crystal coated with a thin film

Autor:	M. Agamalian, E. Iolin, Helmut Kaiser, Ch. Rehm, Samuel A. Werner
Rok vydání:	2001
Předmět:	Crystal Materials science Condensed matter physics Residual stress Thin film Neutron scattering
Zdroj:	Physical Review B. 64
ISSN:	1095-3795 0163-1829
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::427f35deab49fde21f2372b2df7f551c https://doi.org/10.1103/physrevb.64.161402 Zobrazit plný text záznamu