Reliability Improvement of Gate-All-Around Junctionless SONOS Memory by Joule Heat From Inherent Nanowire Current
| Autor: | Jung-Woo Lee, Joon-Kyu Han, Myung-Su Kim, Ji-Man Yu, Jin-Woo Jung, Seong-Yun Yun, Yang-Kyu Choi |
|---|---|
| Rok vydání: | 2022 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | IEEE Transactions on Electron Devices. 69:6133-6138 |
| ISSN: | 1557-9646 0018-9383 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|