Measuring Knowledge Spillovers Using Belgian Epo and USPTO Patent Data

Autor:	Joseph E. J. Plasmans, Ruslan Lukatch
Rok vydání:	2001
Zdroj:	SSRN Electronic Journal.
ISSN:	1556-5068
DOI:	10.2139/ssrn.267676
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::425988bc055fa7796b648b01b583364a https://doi.org/10.2139/ssrn.267676 Zobrazit plný text záznamu