TEM compositional microanalysis in III–V alloys

Autor:	Colin J. Humphreys, C. J. D. Hetherington, G J Tatlock, D. J. Eaglesham
Rok vydání:	2021
Předmět:	Materials science Analytical chemistry Microanalysis
Zdroj:	Microscopy of Semiconducting Materials, 1987
DOI:	10.1201/9781003069621-103
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::40c609c816f2a05c61dca977c0f67bdf https://doi.org/10.1201/9781003069621-103 Zobrazit plný text záznamu