Scanning ultrafast electron microscopy reveals photovoltage dynamics at a deeply buried p−Si/SiO2 interface
| Autor: | Elliot J. Fuller, M. J. Marinella, François Léonard, S. R. Ellis, Bolin Liao, A. Alec Talin, J. R. Michael, D. R. Hughart, D. Garland, K. C. Celio, Norman C. Bartelt, David Chandler |
|---|---|
| Rok vydání: | 2021 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Physical Review B. 104 |
| ISSN: | 2469-9969 2469-9950 |
| DOI: | 10.1103/physrevb.104.l161303 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|