POSSIBLE MECHANISMS OF CARRIER LOCALIZATION AND METAL–INSULATOR TRANSITIONS IN HOLE-DOPED CUPRATES
| Autor: | U. T. Kurbanov, S. Dzhumanov |
|---|---|
| Rok vydání: | 2019 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | «Узбекский физический журнал». 21:273-279 |
| ISSN: | 2181-077X 1025-8817 |
| Popis: | Изучены возможные механизмы локализации носителей в неоднородных дырочно-легированных купратах и металл-диэлектрик переходы (МДП) в них. Показано, что диэлектрическое состояние легированных купратов отличается от состояния моттовского диэлектрика нелегиро- ванных купратов, характеризующихся щелью переноса заряда. Неоднородности, обусловленные легирующими примесями и носителями, способствуют разделению и упорядочению зарядов в виде трехмерных (3D), насыщенных и обедненных носителями, полос (страйпов). Специфическое упорядочение заряда приводит к образованию различных сверхрешеток и энергетических зон локализованных носителей в неоднородных высокотемпературных сверхпроводящих купратах. Показано, что примесные и поляронные состояния (зоны) превращаются в металлические состояния на некоторых критических уровнях легирования. Мы используем соотношение неопределенности для получения конкретных условий для МДПов в легированных купратах. Определены пределы применимости этих МДПов в купратах. Наши результаты согласуются с существующими экспериментами на основе La и других купратов. |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|