Advanced diffraction techniques in SEM: LEND, 4D-STEM and aperture-based dark-field imaging

Autor:	Peter Denninger
Rok vydání:	2021
Předmět:	Diffraction Optics Materials science Aperture business.industry business Dark field microscopy
Zdroj:	Proceedings of the European Microscopy Congress 2020.
DOI:	10.22443/rms.emc2020.1022
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::3eb4de63423ee13cd703a93c3d561981 https://doi.org/10.22443/rms.emc2020.1022 Zobrazit plný text záznamu