Test element for high voltage SiC Schottky diodes quality control

Autor:	S V Sedykh, S B Rybalka, E A Kulchenkov, A A Demidov, A Yu Drakin, N A Bryukhno, I V Kuftov
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2020
DOI:	10.13140/rg.2.2.34403.17446
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::3c2a220860166a260fd01b9605387461 Zobrazit plný text záznamu