Ellipsometric Investigations on SiO2/Si: The Interface Response
Autor: | T. Grabolla, G. Jungk, Ch. Jungk |
---|---|
Rok vydání: | 1999 |
Předmět: | |
Zdroj: | physica status solidi (b). 215:731-736 |
ISSN: | 1521-3951 0370-1972 |
DOI: | 10.1002/(sici)1521-3951(199909)215:1<731::aid-pssb731>3.0.co;2-o |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |