Real-Time Fault Detection in Semiconductor Using One-Class Support Vector Machines
Autor: | Francois Pasqualini, Ali Hajj Hassan, Sophie Lambert-Lacroix |
---|---|
Rok vydání: | 2015 |
Předmět: | |
Zdroj: | International Journal of Computer Theory and Engineering. 7:191-196 |
ISSN: | 1793-8201 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |