Real-Time Fault Detection in Semiconductor Using One-Class Support Vector Machines

Autor: Francois Pasqualini, Ali Hajj Hassan, Sophie Lambert-Lacroix
Rok vydání: 2015
Předmět:
Zdroj: International Journal of Computer Theory and Engineering. 7:191-196
ISSN: 1793-8201
Databáze: OpenAIRE