STEM-in-SEM highly deformed structure investigation with focus on electron-transparent specimen preparation

Autor:	Mary Ray, Paul E. Fischione, Jörg M.K. Wiezorek, Cecile S. Bonifacio, Pawel Nowakowski
Rok vydání:	2021
Předmět:	Focus (computing) Materials science Electron Specimen preparation Composite material Instrumentation
Zdroj:	Microscopy and Microanalysis. 27:1604-1607
ISSN:	1435-8115 1431-9276
DOI:	10.1017/s1431927621005900
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::34decce0a23c48d7c84f66cf0e39d743 https://doi.org/10.1017/s1431927621005900 Zobrazit plný text záznamu