Dose-Efficient Defect Contrast with 4D-STEM

Autor:	Stephanie M Ribet, Colin Ophus, Roberto dos Reis, Vinayak P Dravid
Rok vydání:	2022
Předmět:	Instrumentation
Zdroj:	Microscopy and Microanalysis. 28:346-348
ISSN:	1435-8115 1431-9276
DOI:	10.1017/s1431927622002148
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::344daaaf2fffb7935c7e1469814ef2bb https://doi.org/10.1017/s1431927622002148 Zobrazit plný text záznamu