High‐Temporal‐Resolution Characterization Reveals Outstanding Random Telegraph Noise and the Origin of Dielectric Breakdown in h‐BN Memristors
| Autor: | Sebastian Pazos, Thales Becker, Marco Antonio Villena, Wenwen Zheng, Yaqing Shen, Yue Yuan, Osamah Alharbi, Kaichen Zhu, Juan Bautista Roldán, Gilson Wirth, Felix Palumbo, Mario Lanza |
|---|---|
| Rok vydání: | 2023 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Advanced Functional Materials. :2213816 |
| ISSN: | 1616-3028 1616-301X |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|
Plný text