Characterizing fault roughness—Are faults rougher at long or short wavelengths?

Autor:	Nicholas M. Beeler
Rok vydání:	2021
Předmět:	Wavelength Optics business.industry Surface finish Fault (power engineering) business Geology
Zdroj:	Open-File Report.
ISSN:	2331-1258
DOI:	10.3133/ofr20201134
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::342f36546d967f43589dd30a92b54d81 https://doi.org/10.3133/ofr20201134 Zobrazit plný text záznamu