Low-Energy Ion-Induced Single-Event Burnout in Gallium Oxide Schottky Diodes
Autor: | R. M. Cadena, D. R. Ball, E. X. Zhang, S. Islam, A. Senarath, M. W. McCurdy, E. Farzana, J. S. Speck, N. Karom, A. O’Hara, B. R. Tuttle, S. T. Pantelides, A. F. Witulski, K. F. Galloway, M. L. Alles, R. A. Reed, D. M. Fleetwood, R. D. Schrimpf |
---|---|
Rok vydání: | 2023 |
Předmět: | |
Zdroj: | IEEE Transactions on Nuclear Science. 70:363-369 |
ISSN: | 1558-1578 0018-9499 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |