Secondary Electron Yield at High Voltages up to 300 keV

Autor:	Hooman Hosseinkhannazer, Matthew Reynolds, David C. Joy, Michel L. Trudeau, R. Veillette, Kota Ueda, Stas Dogel, David Hoyle, Jane Y. Howe
Rok vydání:	2015
Předmět:	Materials science Yield (engineering) Analytical chemistry Instrumentation Secondary electrons Voltage
Zdroj:	Microscopy and Microanalysis. 21:1705-1706
ISSN:	1435-8115 1431-9276
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::3335c139cb1fc0cf764c721b9f1e3f1b https://doi.org/10.1017/s1431927615009307 Zobrazit plný text záznamu