Rasterelektronenmikroskopische (SEM) und energiedispersive Röntgenanalyse (EDXA) an zwei neuen Intraokularlinsen

Autor: Burchard Wg, Martin Wenzel, Norbert Schrage, Ch. Teping, M. Reim
Rok vydání: 1991
Zdroj: 5. Kongreß der Deutschsprachigen Gesellschaft für Intraokularlinsen Implantation ISBN: 9783642768163
DOI: 10.1007/978-3-642-76815-6_71
Popis: Wahrend der Vorbereitungen zur Implantation neuer Intraokularlinsen fielen dem Operateur insgesamt acht Linsen eines Herstellers auf, welche noch in der Verpackung Ablagerungen von kristallinem Charakter zeigten. Von diesen Linsen wurden zwei mittels der SEM und EDXA-Technik untersucht. Es zeigte sich, das beide Linsen schwerst verunreinigt waren. Partikel, welche die Elemente Mg-Si, Al-Mg-Si, Ti, Fe, Ca und Cu enthielten, konnten auf den Linsenoberflachen nachgewiesen werden. Solche Verunreinigungen stellen ein groses Risiko fur die IOL-Implantation bei der Kataraktoperation dar. Es ist moglich, das vereinzelte Falle eines sterilen Hypopyons auch durch solche Koimplantate verursacht werden konnen.
Databáze: OpenAIRE