Optical Micro-Scanning X-Ray Real-Time Imaging Method

Autor:	高美静 Gao Meijing, 许伟 Xu Wei, 吴伟龙 Wu Weilong, 王静媛 Wang Jingyuan
Rok vydání:	2016
Předmět:	Electrical and Electronic Engineering Atomic and Molecular Physics and Optics
Zdroj:	Laser & Optoelectronics Progress. 53:051102
ISSN:	1006-4125
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::311712b9b74c1dd58288aaeb426cb273 https://doi.org/10.3788/lop53.051102 Zobrazit plný text záznamu