Stability of twist interfacial dislocations in (001) silicon bonded films

Autor:	Noël Magnea, Hubert Moriceau, J L Rouvuére, Frank Fournel, K Rousseau
Rok vydání:	2018
Předmět:	Materials science Silicon chemistry chemistry.chemical_element Twist Composite material Stability (probability)
Zdroj:	Microscopy of Semiconducting Materials 2001 ISBN: 9781351074629
DOI:	10.1201/9781351074629-80
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::310ccc6c5413ed79c8370a95b023a576 https://doi.org/10.1201/9781351074629-80 Zobrazit plný text záznamu