Imaging Lattice Distortions in High Entropy Alloys at Multiple Length Scales Using Electron Nanodiffraction and 4D-STEM
Autor: | Haw Wen Hsiao, Yu-Tsun Shao, Renliang Yuan, Jian-Min Zuo |
---|---|
Rok vydání: | 2020 |
Předmět: | |
Zdroj: | Microscopy and Microanalysis. 26:978-980 |
ISSN: | 1435-8115 1431-9276 |
DOI: | 10.1017/s1431927620016554 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |