Imaging Lattice Distortions in High Entropy Alloys at Multiple Length Scales Using Electron Nanodiffraction and 4D-STEM

Autor: Haw Wen Hsiao, Yu-Tsun Shao, Renliang Yuan, Jian-Min Zuo
Rok vydání: 2020
Předmět:
Zdroj: Microscopy and Microanalysis. 26:978-980
ISSN: 1435-8115
1431-9276
DOI: 10.1017/s1431927620016554
Databáze: OpenAIRE