Ionization-induced annealing of defects in 3C–SiC: Ion channeling and positron annihilation spectroscopy investigations
Autor: | N. Sreelakshmi, G. R. Umapathy, S. Abhaya, C. David, S. Ojha, S. Amirthapandian |
---|---|
Rok vydání: | 2023 |
Předmět: | |
Zdroj: | Journal of Materials Research. 38:1349-1363 |
ISSN: | 2044-5326 0884-2914 |
DOI: | 10.1557/s43578-023-00894-1 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |