Ionization-induced annealing of defects in 3C–SiC: Ion channeling and positron annihilation spectroscopy investigations

Autor: N. Sreelakshmi, G. R. Umapathy, S. Abhaya, C. David, S. Ojha, S. Amirthapandian
Rok vydání: 2023
Předmět:
Zdroj: Journal of Materials Research. 38:1349-1363
ISSN: 2044-5326
0884-2914
DOI: 10.1557/s43578-023-00894-1
Databáze: OpenAIRE