Effect of electrostatic screening on energy positions of electron spectra nearSiO2/Si interfaces

Autor: M. A. Sobolewski, C. R. Helms, R. Browning
Rok vydání: 1988
Předmět:
Zdroj: Physical Review B. 38:13407-13410
ISSN: 0163-1829
DOI: 10.1103/physrevb.38.13407
Databáze: OpenAIRE