Autor:	Li-Mei Zeng, Boren Jiang, Lei Lin, Xiao Di Liu, Ying Wang, Yifang Zhou, Xiao-Wen Lv, Congwei Liao, Shuzhi Chen, Tian-Hong Wang, Min Zhang, Shengdong Zhang
Rok vydání:	2018
Předmět:	Materials science Thin-film transistor Evaluation methods Gate driver Reliability (statistics) Reliability engineering
Zdroj:	SID Symposium Digest of Technical Papers. 49:6-8
ISSN:	0097-966X
DOI:	10.1002/sdtp.12623
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::2d28646b9f4b0c625e73cec9c0e4aad2 https://doi.org/10.1002/sdtp.12623 Zobrazit plný text záznamu Plný text