Method to evaluate off-state breakdown in scaled Tri-gate technologies

Autor: D. Nminibapiel, K. Joshi, R. Ramamurthy, L. Pantisano, I. Meric, S. Ramey
Rok vydání: 2022
Zdroj: 2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS).
Databáze: OpenAIRE