Method to evaluate off-state breakdown in scaled Tri-gate technologies
Autor: | D. Nminibapiel, K. Joshi, R. Ramamurthy, L. Pantisano, I. Meric, S. Ramey |
---|---|
Rok vydání: | 2022 |
Zdroj: | 2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS). |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |