Effect of Bit Line Voltage Stress on Half-Selected Device in 1T1R Array

Autor:	Jinru Lai, Danian Dong, Xu Zheng, Jie Yu, Wenxuan Sun, Xiaoxin Xu
Rok vydání:	2022
Zdroj:	2022 IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW).
DOI:	10.1109/snw56633.2022.9889060
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::285045f0be5384b7fad69a3a3fcdea56 https://doi.org/10.1109/snw56633.2022.9889060 Zobrazit plný text záznamu