Laser Interference Holoellipsometers for the Monitoring of Two-Dimension Uniaxial Crystals
Autor: | I. P. Schapkarin, Москва Rus Московский государственный университет дизайна и технологий, Yu.Yu. Kachurin, A.A. Balaschov, V.A. Vaguine, A.P. Kiryanov, Москва Rus Научно-технологический центр уникального приборостроения Ран, M. Ali, Москва Rus Московский государственный технический университет им. Н. Э. Баумана |
---|---|
Rok vydání: | 2012 |
Předmět: | |
Zdroj: | Физические основы приборостроения. 1:86-97 |
ISSN: | 2225-4293 |
DOI: | 10.25210/jfop-1204-086097 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |