Influence of rapid thermal-annealing parameters on properties of YBaCuO thin films sputtered on silicon-based substrates
Autor: | Joseph M. Baixeras, Francois Carrie, Ferechteh Hosseini Teherani, Alain J. Kreisler |
---|---|
Rok vydání: | 1990 |
Zdroj: | SPIE Proceedings. |
ISSN: | 0277-786X |
DOI: | 10.1117/12.20897 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |