Influence of rapid thermal-annealing parameters on properties of YBaCuO thin films sputtered on silicon-based substrates

Autor: Joseph M. Baixeras, Francois Carrie, Ferechteh Hosseini Teherani, Alain J. Kreisler
Rok vydání: 1990
Zdroj: SPIE Proceedings.
ISSN: 0277-786X
DOI: 10.1117/12.20897
Databáze: OpenAIRE