Exit Criteria
| Autor: | Kim H. Pries, Jon M. Quigley |
|---|---|
| Rok vydání: | 2018 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Testing Complex and Embedded Systems ISBN: 9781315169453 Testing Complex and Embedded Systems |
| DOI: | 10.1201/b10470-18 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|
| Autor: | Kim H. Pries, Jon M. Quigley |
|---|---|
| Rok vydání: | 2018 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Testing Complex and Embedded Systems ISBN: 9781315169453 Testing Complex and Embedded Systems |
| DOI: | 10.1201/b10470-18 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|