Minimizing Negative Long-Term Occurrences in Nanotechnology Development

Autor:	Craig Hanks, Walt Trybula, Deb Newberry, Dominick E. Fazarro
Rok vydání:	2020
Předmět:	Risk analysis (engineering) Business Term (time)
Zdroj:	Intellectual Property Issues in Nanotechnology ISBN: 9781003052104
DOI:	10.1201/9781003052104-14
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::217ca30334bb3f78274a0f428736a9ec https://doi.org/10.1201/9781003052104-14 Zobrazit plný text záznamu