LocSeq: Automated Localization for Compiler Optimization Sequence Bugs of LLVM

Autor:	Zhide Zhou, He Jiang, Zhilei Ren, Yuting Chen, Lei Qiao
Rok vydání:	2022
Předmět:	Electrical and Electronic Engineering Safety Risk Reliability and Quality
Zdroj:	IEEE Transactions on Reliability. 71:896-910
ISSN:	1558-1721 0018-9529
DOI:	10.1109/tr.2022.3165378
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::207f125c69dbc58a718539e09ecaea11 https://doi.org/10.1109/tr.2022.3165378 Zobrazit plný text záznamu