Dielectric Thickness and Fin Width Dependent OFF-State Degradation in AlGaN/GaN SLCFETs
| Autor: | Akhil S. Kumar, Michael J. Uren, Matthew D. Smith, Martin Kuball, Justin Parke, H. George Henry, Robert S. Howell |
|---|---|
| Rok vydání: | 2023 |
| Zdroj: | 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS). |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|