Annihilation Behavior of Planar Defects on Phosphorus-Doped Silicon at Low Temperatures
Autor: | Im D.-H., Woo Hyun Nam, Jeong Yong Lee, Sang Yun Kim, Lee K.-S., Kwang Wuk Park, Yong In Kim, Myoungho Jeong, Jong Min Yuk, Im K.-V., Han-jin Lim, Sungkyu Kim |
---|---|
Rok vydání: | 2017 |
Předmět: | |
Zdroj: | Journal of Nanoscience and Nanotechnology. 17:3370-3374 |
ISSN: | 1533-4880 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |