A Thin Layer Method for the LA-ICP-MS Analysis of Trace Element Concentrates

Autor: N. S. Medvedev, V. D. Kurbatova, A. I. Saprykin
Rok vydání: 2023
Předmět:
Zdroj: Journal of Analytical Chemistry. 78:316-323
ISSN: 1608-3199
1061-9348
Databáze: OpenAIRE
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje