Nondestructive Location of Oxide Breakdowns on MOSFET Structures
Autor: | P. L. Garbarino, R. D. Sandison |
---|---|
Rok vydání: | 1973 |
Předmět: | |
Zdroj: | Journal of The Electrochemical Society. 120:834 |
ISSN: | 0013-4651 |
DOI: | 10.1149/1.2403571 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |