Systemmodelle als Schlüssel zu durchgängigen XIL-Testszenarien

Autor:	Joachim Schmitz, Markus Fockel
Rok vydání:	2017
Zdroj:	Tag des Systems Engineering: Paderborn, 8.-10. November 2017
DOI:	10.3139/9783446455467.003
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::1daaa0a94cfb3af2cd880304ccd773ef https://doi.org/10.3139/9783446455467.003 Zobrazit plný text záznamu