Wavelet-Filterung von fraktalen Oberflächen (Wavelet Filtering of Fractal Surfaces)

Autor:	Peter Bakucz, Sven Schröder, Andreas Tünnermann, Rolf Krüger-Sehm, Angela Duparré
Rok vydání:	2008
Předmět:	Physics Fractal Wavelet business.industry Wavelet filtering Computer vision Artificial intelligence Surface finish Electrical and Electronic Engineering business Instrumentation Light scattering
Zdroj:	teme. 75:339-345
ISSN:	2196-7113 0171-8096
DOI:	10.1524/teme.2008.0876
Popis:	Streulichtbasierte Messverfahren eignen sich prinzipiell sehr gut zur anwendungsnahen Charakterisierung von Oberflächen-Nanostrukturen. Kenngrößen wie die rms-Rauheit oder das Rauheitsspektrum lassen sich direkt bestimmen. Speziell bei der Anwendung auf Mikroflächen führt jedoch die Betrachtung sehr kleiner Oberflächenbereiche zu statistischen Fluktuationen der Streuverteilung und damit des Rauheitsspektrums. Durch geeignete Filterverfahren kann trotzdem das globale Rauheitsspektrum geschätzt werden, das das gesamte Ensemble gleichartiger Oberflächen repräsentiert.
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::1d6b3f5df15ec05b24d1a1f4e5d5e3c8 https://doi.org/10.1524/teme.2008.0876 Zobrazit plný text záznamu