Zero Trust Approach to IC Manufacturing and Testing
Autor: | Brian Buras, Constantinos Xanthopoulos, Ken Butler, Jason Kim |
---|---|
Rok vydání: | 2022 |
Zdroj: | 2022 IEEE International Test Conference (ITC). |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |
Autor: | Brian Buras, Constantinos Xanthopoulos, Ken Butler, Jason Kim |
---|---|
Rok vydání: | 2022 |
Zdroj: | 2022 IEEE International Test Conference (ITC). |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |