Electron Penetration Depths in EUV Photoresists
Autor: | Robert L. Brainard, Bharath Srivats, Shahid Memon, Leonidas E. Ocola, Sanjana Das, Jonathan Schad, Greg Denbeaux, Henry C. Herbol, Justin Torok |
---|---|
Rok vydání: | 2014 |
Předmět: | |
Zdroj: | Journal of Photopolymer Science and Technology. 27:611-615 |
ISSN: | 1349-6336 0914-9244 |
DOI: | 10.2494/photopolymer.27.611 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |