Effect of Copper on the Breakthrough Voltage of Poly-Si - Poly-Si Capacitors
Autor: | M. Rygula, Joseph Zahka, J.E. Pillion, M. Boehringer, H. Zhang, P. Brauchle, D. Aquino, G. Zielonka, J. Hauber, K. Winz, V. Erdmann |
---|---|
Rok vydání: | 2001 |
Předmět: | |
Zdroj: | Solid State Phenomena. :279-282 |
ISSN: | 1662-9779 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |