Chapter 14. Universal Industrial Hygiene Metrics

Autor:	Judy L. Jarrell, Dee Woodhull, William J. Boyd, Paul A. Esposito, Ed Hanna, John Seibert, Reginald Richards, Jonathan M. Haas, Matthew R. Chini, Kul B. Garg, Doug Ohlin, Edward Klinenberg, Ann Brockhaus
Rok vydání:	2009
Předmět:	Occupational hygiene Nanotechnology Engineering ethics Mathematics
Zdroj:	Industrial Hygiene Performance Metrics
DOI:	10.3320/978-1-931504-12-6.119
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::162c2d110c3ab553d5fc724079908390 https://doi.org/10.3320/978-1-931504-12-6.119 Zobrazit plný text záznamu