Grammar-based fuzz testing for microprocessor RTL design

Autor:	Dan Luo, Tun Li, Liqian Chen, Hongji Zou, Mingchuan Shi
Rok vydání:	2022
Předmět:	Hardware and Architecture Electrical and Electronic Engineering Software
Zdroj:	Integration. 86:64-73
ISSN:	0167-9260
DOI:	10.1016/j.vlsi.2022.05.001
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::157e8304814bea57ec10b0eef4a828cf https://doi.org/10.1016/j.vlsi.2022.05.001 Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect