Local Mapping of Thermoelectric Properties of 2D Structures via Scanning Thermal Gate Microscopy
Autor: | Pascal Gehring |
---|---|
Rok vydání: | 2021 |
Předmět: | |
Zdroj: | Proceedings of the Microscience Microscopy Congress 2021 incorporating EMAG 2021. |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |