The Use of Microlithographic Markers in Electron Microscopy of High-Temperature Oxidation Processes

Autor:	C.K. Kim, S.-K. Fan, L.W. Hobbs
Rok vydání:	2023
Zdroj:	Microscopy of Oxidation ISBN: 9781003422020
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::1424b7186dbf53beb2fada0009290e76 https://doi.org/10.1201/9781003422020-53 Zobrazit plný text záznamu