PCBA Image Analysis: A Comparison of Visible, Infrared & X-ray Wavelengths

Autor:	B. Malin, T. Kalganova, J. Danskins, J. R. Gilchrist
Rok vydání:	2022
Zdroj:	2022 IEEE Physical Assurance and Inspection of Electronics (PAINE).
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::13d1178bb3c2add16b90703cebd2ca9a https://doi.org/10.1109/paine56030.2022.10014963 Zobrazit plný text záznamu