Autor:	Yiming Wu, Zhiyuan Xie, Shouling Ji, Zhenguang Liu, Xuhong Zhang, Changting Lin, Shuiguang Deng, Jun Zhou, Ting Wang, Raheem Beyah
Rok vydání:	2023
Předmět:	Electrical and Electronic Engineering
Zdroj:	IEEE Transactions on Dependable and Secure Computing. 20:1169-1185
ISSN:	2160-9209 1545-5971
DOI:	10.1109/tdsc.2022.3151132
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::1313f3336f05fd21c0654a7e8f648642 https://doi.org/10.1109/tdsc.2022.3151132 Zobrazit plný text záznamu