Autor:	Irmgard D. Dietzel, Patrick Happel, Tilman E. Schäffer
Rok vydání:	2022
Zdroj:	Scanning Ion Conductance Microscopy ISBN: 9783031144424
DOI:	10.1007/11663_2022_14
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::128e356035d66098de80f83299ed8e4d https://doi.org/10.1007/11663_2022_14 Zobrazit plný text záznamu