A Metrology Approach to Uncertainty in Quantitative EDS Analyses

Autor:	Loukie Adlem, Michael Lee, Sara Prins
Rok vydání:	2003
Předmět:	Materials science Systems engineering Instrumentation Metrology
Zdroj:	Microscopy and Microanalysis. 9:716-717
ISSN:	1435-8115 1431-9276
DOI:	10.1017/s1431927603443584
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::1285687f06e29bd8fd82e4f08a425d18 https://doi.org/10.1017/s1431927603443584 Zobrazit plný text záznamu